Probe Card

澤富科技擁有不同平台(base)及不同類型的探針卡設計能力，如懸臂式、垂直式探針卡。從佈局設計到元件材料，結合Probe Head及Substrate到測試機台，Probe Card用於IC切割前測試，並因應現今IC產品複雜度提升，針對客戶需求來客製化設計，以應用於斷線、短路、電流、高頻高速量測、阻抗等檢查。