澤富科技提供客製化老化版 Burn-In Board（公板／專板）的設計製作。
配合客戶IC工作壽命試驗需求（電壓, 溫度, 獨立溫控），客製老化試驗板，讓客戶可以在各系統進行IC 壽命實驗，以檢測產品本身功能性與特性是否會因環境條件而有所改變，評估IC產品在長時間下操作的壽命。
加速壽命試驗的目的是提高環境應力與工作應力（施加給產品的電壓、負荷、溼度等）專用測試板。
• BIB+ DUT Card + Adapt Card
• BIB(With Socket) + DUT Card
• BIB+ Socket Card (With CKT)
• BIB(With Socket & CKT) --- (Dedicate)
• BIB＋Device Card --- (Non-Socket)
